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IMP離子蝕刻探針(Ion Milling Probe),自帶差式泵,,堅(jiān)固的二次離子質(zhì)譜儀,,適于分析離子蝕刻過程中的二次離子和中性粒子.
獨(dú)有的專業(yè)終點(diǎn)檢測(End Point Detection)儀器,用于離子蝕刻控制以及過程質(zhì)量**化監(jiān)測.
技術(shù)參數(shù):
應(yīng)用:
• 終點(diǎn)檢測(End Point Detection)
• 靶的純度鑒定
• 質(zhì)量控制/ SPC.
• 殘余氣體分析
• 泄漏監(jiān)測
主要特點(diǎn):
特點(diǎn):
• 高靈敏度的 SIMS/MS,,帶脈沖離子計(jì)數(shù)檢測器
• 三級(jí)過濾四極桿,,標(biāo)準(zhǔn)配置質(zhì)量數(shù)為300 amu
• 差式泵歧管,,經(jīng)連接法蘭,接到過程室
• 離子光學(xué)器件,,帶能量分析器和內(nèi)置離子源
• Penning規(guī)和互鎖裝置,,以提供過壓保護(hù)
• 數(shù)據(jù)系統(tǒng)與過程控制工具整合
• 穩(wěn)定性(24h以上,峰高變化小于 ±0.5%)
• 通過 RS232,、RS485或以太網(wǎng),, 軟件MASsoft控制
• 程控DDE, 平行數(shù)字式I/O,, RS232通訊
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