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XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,，用于極端環(huán)境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用,，也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及**的稱量精度和穩(wěn)定性,。
XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技術,，可在高溫,、高壓條件下進行重量吸附分析，也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用,。
產(chǎn)品特點
外部感知技術，把敏感元件置于天平室外部,，允許腐蝕性和易燃氣體的操作
幾何對稱、精密設計的微量天平
內部容積*小化
大容量微量天平（5克）,，分辨率0.2μg和長期穩(wěn)定性±5μg
寬動態(tài)稱量范圍（0-200毫克）
操作壓力高達200bar
單獨的反應器可進行從77 K到773 K的全溫度范圍測量
無需重新歸零或原位校準
采用IGA特有的終點預測方法
全金屬結構由高品質的VCR裝配
模塊化設計，與所有配件兼容且可升級
產(chǎn)品應用
XEMIS的應用領域:
氣體吸附分析
等溫線的測定
動力學分析
熱力學研究
儲氫
甲烷存儲
二氧化碳封存
氣體的分離與純化
超臨界氣體吸附
頁巖氣和煤層沼氣研究
離子液體中的氣體溶解度測量
化學吸附研究
化學反應的研究 (例如 氧化/氮化)
金屬有機骨架(MOFs)/多孔配位框架
活性炭,、碳分子篩和模板碳
沸石和沸石類物質
多孔聚合物
該XEMIS可廣泛應用于不同的吸附氣體。如有具體要求請與我們聯(lián)系,。
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