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經(jīng)濟(jì)型靶材比表面積分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
JW-BK122W型經(jīng)濟(jì)型靜態(tài)比表面及微孔分析儀,,JW***,完全繼承JW系列孔徑分析儀所有技術(shù)特點(diǎn),,自主獨(dú)特創(chuàng)新,。該款儀器核心硬件全部采用國(guó)際先進(jìn)品牌,配備有“二級(jí)吸附泵技術(shù)”及小量程壓力傳感器,,配合微孔分析模型的準(zhǔn)確應(yīng)用,,完全實(shí)現(xiàn)了微孔的精確分析,測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性,、精確性,、穩(wěn)定性完全達(dá)到進(jìn)口同類儀器水平,性價(jià)比極高,,非常適合各大企事業(yè)單位納米粉體材料微孔,、介孔、大孔的研發(fā)及生產(chǎn)檢測(cè),。
性能參數(shù):
儀器型號(hào): JW-BK122W
原理方法: 氣體吸附法,,靜態(tài)容量法;
測(cè)試功能: 等溫吸脫附曲線,;單點(diǎn),、多點(diǎn)BET比表面積,;Langmuir比表面積;外表面積(STSA),;單點(diǎn)吸附總孔體積,、平均孔徑;BJH介孔大孔孔容積及孔徑分布分析,;t-plot法,、as- plot法、DR法,、MP法微孔常規(guī)分析,;HK法、SF法微孔精確分析,;平均粒徑估算,; 特殊功能:NLDFT法孔徑分布分析;真密度精確測(cè)試,;氣體吸附量,、吸附熱測(cè)試;質(zhì)量輸入法測(cè)試,;
測(cè)試氣體: 氮,、氧、氫,、氬、氪,、二氧化碳,、甲烷等;
測(cè)試范圍: 比表面0.0005m2/g至無上限,,孔徑3.5 nm -5000 nm,;
孔體積測(cè)試范圍:0.0001cc/g至無上限,;
重復(fù)精度: 比表面積≤± 1.0%,,孔徑≤0.2 nm;
測(cè)試效率: 比表面積平均每樣30min,;介孔,、大孔分析平均每樣4-6小時(shí);微孔分析平均每樣8-12小時(shí),;
分析站: 2個(gè)測(cè)試位,,可同位脫氣;
P0位: 2個(gè)完全獨(dú)立P0站,;
升降系統(tǒng): 2個(gè)樣品測(cè)試位原位設(shè)有2套獨(dú)立的升降系統(tǒng),,電動(dòng)控制,、自動(dòng)控制,且互不干擾,;
真空系統(tǒng): 多通路并聯(lián)抽真空系統(tǒng),,集裝式模塊化設(shè)計(jì),真空抽速微調(diào)閥系統(tǒng)**技術(shù),,可在2-200ml/s范圍內(nèi)自動(dòng)調(diào)節(jié),;
真空泵: 原裝進(jìn)口機(jī)械真空泵及二級(jí)吸附泵**技術(shù),極限真空達(dá)10-4Pa,;
脫氣系統(tǒng): 同位,、異位真空脫氣預(yù)處理系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)。標(biāo)配2套脫氣系統(tǒng),,2個(gè)獨(dú)立加熱包,,2套獨(dú)立溫控表,均可程序升溫控制,,升溫階數(shù)多達(dá)10階,;
脫氣溫度: 室溫—400℃,精度±1℃,;
壓力傳感: 原裝進(jìn)口硅薄膜電容式雙壓力傳感器,,1000 torr(133.3KPa)、10torr(1.333KPa),,精度≤± 0.15%,;
分壓范圍: 10-6 - 0.998
壓力控制: 平衡壓力智能控制法,壓力可控間隔<0.1KPa,,吸附壓力點(diǎn)可自動(dòng)控制,;
數(shù)據(jù)采集: 以太網(wǎng)數(shù)據(jù)采集,采集速度快,、精度高,,兼容Windows 7/XP 32/64位系統(tǒng);
應(yīng)用領(lǐng)域:
●催化劑材料:活性氧化鋁,、分子篩,、沸石等,;
●環(huán)保領(lǐng)域:活性炭等吸附劑,;
●納米材料:納米陶瓷粉體(氧化鋁、氧化鋯,、氧化釔,、氮化硅,、 碳化硅等),、納米金屬粉體(銀粉,、鐵粉,、銅粉,、鎢粉,、鎳粉 等),、納米高分子材料、碳納米管等,;
●煤礦行業(yè):煤、礦石,、巖石,、頁(yè)巖氣、煤層氣等,;
●其他材料:超細(xì)纖維,、多孔織物、復(fù)合材料等,。
暫無數(shù)據(jù),!