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TI-Premier型納米壓痕儀是Hysitron公司研制的自動(dòng)化,、高通量測(cè)試儀器,可以用來(lái)表征多項(xiàng)納米力學(xué)材料性能參數(shù),。高性能的樣品加載系統(tǒng)和傳感技術(shù)賦予儀器超高的穩(wěn)定性,, 在薄膜、陶瓷,、復(fù)合物,、聚合物、微機(jī)電系統(tǒng),、生物和金屬等領(lǐng)域均有廣泛應(yīng)用,,并且支持多種樣品類(lèi)型和多種樣品尺寸?!?/span>
除了納米壓痕和微米壓痕,,Hysitron儀器功能還包括摩擦、磨損,、模量成像,、動(dòng)態(tài)力學(xué)分析、聲發(fā)射監(jiān)測(cè),、接觸電阻測(cè)量,。我們的儀器專(zhuān)為解決您的納米力學(xué)性能需求而設(shè)計(jì),并且我們的專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)將回答并幫助解決您的問(wèn)題,。
產(chǎn)品亮點(diǎn):
針對(duì)從傳統(tǒng)材料到薄膜材料的納米力學(xué)及納米摩擦學(xué)定量化表征,;
先進(jìn)納米力學(xué)測(cè)試的必備工具,使用Hysitron**的三板電容傳感技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)硬度和殘余模量進(jìn)行精確表征,;
納米磨損技術(shù)實(shí)現(xiàn)了材料摩擦學(xué)特性的定量化表征,;
原位SPM技術(shù)通過(guò)在實(shí)驗(yàn)前后獲取并對(duì)比測(cè)試區(qū)域表面的納米尺度形貌像,實(shí)現(xiàn)高精度表征的目的;
多功能兼容化的系統(tǒng)配置能夠輕易實(shí)現(xiàn)各種特殊的研究目的,;
標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)參數(shù):
納米壓痕: **載荷:≥10 mN **位移:≥5 μm
納米劃痕: **橫向載荷力:≥2 mN
納米磨損: 磨損面積范圍:1 μm ×1 μm-60 μm×60 μm
原位SPM成像: *小掃描成像載荷:70 nN
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