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Ultim Max TEM，搭載于透射電子顯微鏡(TEM)主要用于納米尺度成分分析和元素面分布分析,。
全新設計80mm2的傳感器,，進一步接近樣品并提供更多的x射線計數(shù)。UltimMax TEM結合了無窗設計和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質量數(shù)據(jù),。
· 0.2 - 0.6 srad的立體角
· 對低能量x射線的靈敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的計數(shù)率下進行定量分析
· 在原位實驗中,，可在1000°C的溫度下采集譜圖
暫無數(shù)據(jù)！
您是否已飽受核磁送檢排隊周期長,、結果反饋不及時和反應情況無法隨時掌握的煎熬,？您是否也面臨核磁教學中學生只能學習理論而無法親自實操的窘境？現(xiàn)在X-Pulse寬帶臺式核磁波譜儀可以完全解決上述問題,，儀器因
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