重現(xiàn)性：
<1%（標準D50偏差）分散方式：
內嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦，可連接鍵盤,、鼠標,、U盤測量時間：
正常條件下小于1分鐘測量范圍：
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概述：
隨著科學技術的日益進步和發(fā)展，在國民經(jīng)濟的許多部門,，如能源,、動力、機械,、醫(yī)藥,、化工、輕工,、冶金,、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來越多的細微顆粒密切相關的技術問題有待解決，顆粒粒徑大小的測量是其中*基本也是*重要的一個方面,。許多情況下,，顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質量，而且對工藝過程的優(yōu)化,、能源消耗的降低,、環(huán)境污染的減少等都有重大的關聯(lián)。 近年來,，與高新尖端技術,、國防工業(yè)、軍事科學等密切相關的各種新型顆粒材料,，特別是超細納米顆粒的問世和利用,，給顆粒粒徑的測量提出了新的和更高的要求，不但要求快速,、自動化數(shù)據(jù)處理,、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息，以滿足科研領域和工業(yè)質量控制方面應用的需要,。TS-DS系列激光粒度分析儀正是為了滿足用戶上述新要求而精心研制開發(fā)的**一代激光粒度分析儀,。該儀器集先進激光技術,、半導體技術、光電技術,、微電子技術和計算機技術的應用,，綜合了光、機,、電,、計算機于一體，以光散射理論為基礎的顆粒粒徑測量技術突出的優(yōu)點逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測量方法,，必將成為一代新穎的顆粒粒徑測量儀器,。并且在科研領域和工業(yè)質量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來越大的作用。
TS-DS系列激光粒度分析儀的高品質和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業(yè)生產(chǎn)的質量控制等諸多領域中得到了廣泛的應用,。例如：材料,、化工、制藥,、精細陶瓷,、建材、石油,、電力,、冶金、食品,、化妝品,、高分子、油漆,、涂料,、碳黑、高嶺土,、氧化物,、碳酸鹽、金屬粉末,、耐火材料,、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品,、中間體等,。
技術特點：
1.獨特的半導體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源，波長短,、體積小,、工作穩(wěn)定、壽命長,；
2.獨特設計大直徑光靶,，保證測量范圍大，0.1-1000微米全測量范圍內不需要更換鏡頭或移動樣品池,；
3.集多年研究之成果,，米氏理論的**應用；
4.獨特反演算法,，保證顆粒測量的準確,；
5.USB接口，儀器與計算機一體化,，內嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦,，可連接鍵盤、鼠標,、U盤
6.測量時循環(huán)樣品池或固定樣品池可選,，兩者可根據(jù)需要換用；
7.樣品池模塊化設計,，更換模塊可實現(xiàn)不同的測試模式,；循環(huán)樣品池內置超聲分散裝置，可有效分散團聚顆粒,；干法樣品池新型進樣分散系統(tǒng),、配置空氣抽取系統(tǒng)，實現(xiàn)樣品粉塵均勻流動,。
8.樣品測量可完全自動化,，除添加樣品外，只要連接好蒸餾水進水管和排水管,，進水,、測量、排水,、清洗,，啟動超聲分散裝置等操作可完全自動進行，同時也提供手動測量菜單,；
9.軟件個性化,，提供測量向導等眾多功能，方便用戶操作,；
10.測量結果輸出數(shù)據(jù)豐富,，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù),，如操作者姓名,，樣品名，日期，時間等進行調用分析,，與其他軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享,；
11.儀器造型美觀，體積小重量輕,；
12.測量精度高,，重復性好，測量時間短,；
13.軟件提供眾多物質折射率供用戶選擇,，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求；
14.考慮到測試結果的保密要求,，只有授權操作者才能進入相應數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理,；
15.本儀器符合但并不局限于以下標準：
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
技術參數(shù)：
型號 | TS-DW2 |
理論依據(jù) | Mie散射理論 |
粒徑測量范圍 | 0.1-400um |
光源 | 半導體制冷恒溫控制紅光固體激光光源，波長635nm |
重復性誤差 | <1%（標準D50偏差） |
測量誤差 | <1%（標準D50偏差,，用國家標準顆粒檢驗） |
檢測器 | 32或48通道硅光電二極管 |
樣品池 | 固定樣品池10mL,、循環(huán)樣品池（500mL內置超聲分散裝置）、干法樣品池 |
測量分析時間 | 正常條件下小于1分鐘（從開始測量到顯示分析結果） |
輸出內容 | 體積,、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表,；多種統(tǒng)計平均直徑；操作者信息,；實驗樣品信息,、分散介質信息等。 |
顯示方式 | 內嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦,，可連接鍵盤,、鼠標、U盤 |
電腦系統(tǒng) | WIN 10系統(tǒng),，30GB硬盤容量,、2GB系統(tǒng)內存 |
電源 | 220V，50 Hz |
工作環(huán)境：
l 1.室內溫度：15℃-35℃
l 2.相對溫度：不大于85%（無冷凝）
l 3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV,，無強磁場干擾,。
l 4.由于在微米級的范圍內的測量，儀器應放在堅固可靠,、無振動的工作臺上,，并且在少塵條件下進行測量。
l 5.儀器不應放在太陽直射,、風大或溫度變化大的場所,。
l 6.設備必須接地，保證安全和高精度,。
l 7.室內應清潔,、防塵,、無腐蝕性氣體。
工作原理：
TS-DW系列激光粒度分析儀工作原理如圖1所示：
由一個特制的半導體制冷恒溫控制635nm紅光固體激光光源,，發(fā)出的激光經(jīng)濾波處理,，通過透鏡照到樣品池，當樣品池中無顆粒時,，激光會聚在探測器中心,，當樣品池中有顆粒，激光被散射,，散射出來的相同方向的光聚焦到焦平面上，在這個平面上放置一個獨特設計具有32或48通道的硅光電二極管扇形光靶檢測器,，用來接收散射光能的分布,，光電檢測器把照射到每個環(huán)面上的散射光能轉換成相應的信號，在這些電信號中包含有顆粒粒徑大小及分布的信息,，電信號經(jīng)放大和模數(shù)轉換后一起送入計算機,，計算機根據(jù)測得的各個環(huán)上的衍射光能值按預先編好的計算機程序可以很快地解出被測顆粒的平均粒徑及尺寸分布，計算結果在顯示屏上顯示或由打印機輸出,。
該系統(tǒng)內置了一套由計算機控制超聲分散裝置,，利用超聲的空化作用使團聚的顆粒分散，顆粒分散可保證測試的準確性和高度重復性,。除分散技術外,，還內置了循環(huán)泵 ，從而保證測試過程中大顆粒不丟失,。該系統(tǒng)可以使樣品的測量和分散同時進行,，樣品池為立式裝置，水流由下往上流動,，從而避免大顆粒沉淀和氣泡滯留對測量造成影響,。進水、測量,、排水,、清洗完全由計算機操作來完成。
本儀器校準采用國家粒度標準樣GBW(E)120009C型玻璃球粒度進行測試,，分布范圍：2-60μm.D50的標值為40.1μm,，同時對單分散標準微球SiO2進行測試，平均粒徑1030nm.
測試結果可靠性的判斷：
在判斷測量結果的可靠性時,，首先應檢查儀器的工作狀態(tài)（如接地,、背景光的測量信號等），是否正常,，其性能特點（如動態(tài)范圍,、分辯率）是否適合你要測的樣品,，測量規(guī)程及操作條件是否被遵守，每種儀器都有特定的操作規(guī)程（如測量開始前的預熱,、背景光的測量,、樣品制備），適用環(huán)境條件（如溫度,、濕度,、電壓），測試條件（如樣品濃度,、分散劑選用,、介質的選擇等都是應該被遵守）。
重復性既是衡量儀器自身性能的重要指標,，也是衡量測量結果可靠性的重要參數(shù),，當然，儀器本身的重復性是測好樣品的前提,，但是當操作不當或樣品較難測量時（如顆粒密度較大等）,，即使有好的儀器，也未必能測到真實的結果,。如果重復性不好,，結果是不可靠的，必須找出影響重復性的因素并排除,。測量參數(shù)（如折射率）樣品的分散,、濃度、儀器狀態(tài),、環(huán)境等因素都會反映到結果的重復性上,。
測量之前樣品必須經(jīng)過充分分散處理，樣品分散不良時,，測到的結果偏大,，有時還不穩(wěn)定。顯微鏡是觀察分散好壞的有用工具,。
暫無數(shù)據(jù),！
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