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雙電測四探針電阻率/方阻測試儀
一.應用說明Widely used:
覆蓋膜;導電高分子膜,,高,、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結,、濺射、涂覆,、涂布層,,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,,其他半導體材料,、薄膜材料方阻測試
雙電測四探針電阻率/方阻測試儀
二.描述Description:
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,,自動測量,,自動量程,自動系數補償.高集成電路系統(tǒng),、恒流輸出,;選配:PC軟件進行數據管理和處理.
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準,。利用電流探針,、電壓探針的變換,進行兩次電測量,,對數據進行雙電測分析,,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.
雙電測四探針電阻率/方阻測試儀
三.參數資料Parameters
規(guī)格型號/ model | FT-343 |
1.方塊電阻sheet resistance | 10-3~2×105Ω/□ |
2.電阻率Resistivity | 10-4~2×106Ω-cm |
3.測試電流Test current | 0.1μA.μA,10μA,,100μA,,1mA,10mA,,100 mA |
4.電流精度Current | ±0.2% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy |
6.顯示讀數display | 屏液晶顯示:電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數,、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.測試方式 | test mode雙電測量Double electrical measurement |
8.電源Power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W |
9.誤差errors | ≤3%(標準樣片結果) |
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件,; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭,; 選購4.測試平臺,;5.標準電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform |
11.測試探頭test probe | 探針間距選購:1mm;2mm,;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針,;鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm;2mm,;3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
儀器精密,,操作簡單。
智能粉體特性綜合測試儀優(yōu)勢及特點分析1).高精度自動化測量技術,,智能化測量系統(tǒng),,采用集成電路系統(tǒng)模塊;2).7寸觸摸屏或PC軟件兩種操作模式并存:測試過程和測試結果通過PC軟件曲線圖位表示,,并自動生成
2020-03-05
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2020-03-05
2020-03-05
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2020-03-05
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