色散單元:
1波長準確度:
1靈敏度:
0.01分辨率:
1%重現性:
1儀器原理:
圖像分析分散方式:
1測量時間:
60測量范圍:
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FT-361超低阻雙電四探針測試儀
一,、概述:本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,,*小可以測試到1uΩ方阻值,是目前同行業(yè)中能測量到的*小值,,采用高精度AD芯片控制,,恒流輸出,結構合理,、質量輕便,,運輸安全、使用方便,;適用于生產企業(yè)、高等院校,、科研部門,,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示,,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,,電阻率單位自動選擇,,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置,。選配:配備軟件可以由電腦操控,,并保存和打印數據,自動生成報表,;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數,、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導率,,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量,。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準,。利用電流探針,、電壓探針的變換,進行兩次電測量,,對數據進行雙電測分析,,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,,它與單電測直線或方形四探針相比,,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。
選購:本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用,通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.
二,、廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,,高、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽,、合金類箔膜;熔煉,、燒結、濺射,、涂覆,、涂布層,電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
硅晶塊,、晶片電阻率及擴散層,、外延層、ITO導電箔膜,、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓,、太陽能電池、電子元器件,,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),,金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,,PCB銅箔膜,,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,,導電性塑料,,導電性橡膠,導電性薄膜,,金屬薄膜,,抗靜電材料, EMI 防護材料,,導電性纖維,,導電性陶瓷等
三、參數資料
1.方塊電阻范圍:10-6~2×102Ω/□
2.電阻率范圍:10-7~2×103Ω-cm
3.測試電流范圍:0.1μA ,,1μA,,10μA,100μA.
4.電流精度:±0.1%讀數
5.電阻精度:≤0.3%
6.顯示讀數:液晶顯示:電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數,、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導率.
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)
10.選購功能: 選購1.pc軟件,; 2.方形探頭,; 3.直線形探頭; 4.測試平臺
11.測試探頭: 探針間距選購:1mm,;2mm,;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
ROOKO/瑞柯品牌,,來自瑞柯儀器公司,,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業(yè).
專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原
測試范圍大,,精度高